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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2022-10-18 瀏覽數(shù)量：
鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容、電感、變壓器、晶振等車規(guī)電子元器件AEC-Q200認證均需要進行高溫存儲測試，AEC-Q200高溫存儲測試依據(jù)MIL-STD-202 Method 108方法進行測試，接下來為大家介紹AEC-Q200高溫存儲測試。
進行高溫存儲試驗的目的是確定零件在執(zhí)行其操作功能時，在規(guī)定時間內(nèi)暴露于高溫環(huán)境中對零件電氣和機械特性的影響。本試驗方法不適用于以操作次數(shù)表示壽命的零件。有時可通過目視檢查確定該試驗導致的劣化跡象；然而，通過暴露之前、期間或之后的測量或測試，可以更容易地確定影響。浪涌電流、總電阻、介電強度、絕緣電阻和電容是顯示暴露于高溫環(huán)境下有害影響的測量類型。
試樣安裝
試樣應按照規(guī)定的正常安裝方式進行安裝。當同時對多組試樣進行試驗時，試樣之間的安裝距離應符合各組的規(guī)定。如果未規(guī)定距離，則安裝距離應足以將一個試樣的溫度影響另一個試樣溫度的程度降至最低。不同材料制成的試樣可能會相互產(chǎn)生不利影響并改變本試驗的結果，因此不得同時進行試驗。
試驗溫度
試樣應經(jīng)受以下試驗溫度之一，并具有規(guī)定的公差：
對于僅在靜止空氣環(huán)境中對電阻器進行的試驗，最大溫度公差應為±5°C（±9°F）。
操作條件
暴露期間應用于試樣的試驗電位、占空比、負載和其他操作條件（如適用）應符合規(guī)定。
試驗時間
試樣應符合以下規(guī)定的試驗條件之一：
注：本試驗方法刪除了試驗條件E（1500小時試驗）。
測量
應按照規(guī)定在暴露之前、期間或之后進行規(guī)定的測量。如果適用，當試樣進行試驗時，測量頻率和進行測量的占空比部分應符合規(guī)定。
優(yōu)科檢測認證是專業(yè)AEC-Q200認證測試機構，實驗室具備AEC-Q200標準全項測試能力，可提供鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容、電感、變壓器、晶振等車規(guī)電子元器件AEC-Q200高溫存儲測試服務。
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