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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2025-05-12 瀏覽數(shù)量:
二次篩選是確保半導體集成電路(IC)在嚴苛環(huán)境下可靠性的關鍵環(huán)節(jié)。優(yōu)科檢測認證作為CNAS資質認證的第三方檢測機構,依據(jù)GJB597B-2012《半導體集成電路通用規(guī)范》,提供覆蓋B級、BG級、S級質量等級的半導體集成電路二次篩選服務。我們通過16項嚴格檢測項目(如溫度循環(huán)、粒子碰撞噪聲檢測等),幫助軍工、航天、通信等領域客戶篩選出高可靠性元器件,降低應用風險。
目的:
1. 剔除潛在缺陷:通過環(huán)境應力、電性能測試等手段,發(fā)現(xiàn)早期失效的元器件,避免“帶病上崗”。
2. 提升批次一致性:確保同一生產批次的器件性能穩(wěn)定,滿足軍用或宇航級高可靠性需求。
原理:
模擬元器件實際使用中的極端環(huán)境(如高溫、振動、濕度),結合電性能測試,暴露因材料、工藝或設計導致的缺陷,如鍵合不良、密封失效等。
根據(jù)GJB597B-2012標準,以下場景需進行二次篩選:
1. 高可靠性領域:航天器、衛(wèi)星、軍用設備等使用的S級(宇航級)和BG級(高可靠軍用級)集成電路。
2. 關鍵供應鏈環(huán)節(jié):進口元器件驗證、國產化替代品質量評估。
3. 長期貯存后復用的元器件:確保存儲后性能未退化。
核心標準:GJB597B-2012 4.4條款明確要求,所有交付的半導體集成電路需按質量等級(B/BG/S級)完成100%篩選試驗,禁止以抽樣替代全檢。
檢測項目覆蓋:
- 環(huán)境應力篩選:溫度循環(huán)、恒定加速度;
- 結構檢測:密封性(細檢/粗檢)、X射線照相;
- 電性能驗證:老煉測試、反偏老煉、最終電測試。
優(yōu)科檢測采用“全流程檢測+失效分析”的一站式方案,具體流程包括:
1. 預處理:編序列號、封帽前內部目檢。
2. 環(huán)境應力試驗:溫度循環(huán)(-55℃~125℃)、粒子碰撞噪聲檢測(PIND)等。
3. 性能驗證:老煉測試(168小時以上)、非破壞性鍵合拉力試驗(100%全檢)。
4. 密封性檢測:氦質譜細檢與氟油粗檢,確保氣密性達標。
1. 需求確認:客戶提供元器件型號、質量等級及檢測要求。
2. 方案制定:優(yōu)科技術團隊定制篩選方案,明確檢測項目與周期。
3. 樣品檢測:實驗室完成全流程測試,同步記錄失效數(shù)據(jù)。
4. 報告出具:7-15個工作日內提供CNAS認可的檢測報告,含失效分析建議。
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務、專業(yè)人員技術培訓服務,擁有多名航空、航天電子元器件質量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業(yè)設備
配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng),老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設備30臺套、半導體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設備等。
3. 一站式方案服務
依據(jù)客戶產品規(guī)格,準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結果,準確定位元器件失效機理,并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權威保障
軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設備,保證測試流程和測試精度,第三方公正檢測機構。
半導體集成電路的二次篩選是保障高可靠設備穩(wěn)定運行的核心環(huán)節(jié)。優(yōu)科檢測認證以專業(yè)能力與權威資質,為您的元器件質量保駕護航!如需咨詢檢測方案或獲取報價,歡迎聯(lián)系我們的技術團隊。
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